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HEXAGON海克斯康測頭|HP-TMe/HP-THDeSF/MLE三坐標測頭觸發式觸發測頭/接觸式掃描測頭/非接觸式掃描測頭型號：HP-TMe-SF、HP-TMe-LF、HP-TMe-MF、HP-TMe-EF、HP-THDe、HP-T-RP、HP-S-X1、HP-S-X3、HP-S-X5/X5HD、LSP-S2/S4、HP-L-10.10、HP-C-TS5.10、HP-O、HP-O Adjustable、HP-O Hybrid、HP-O Multi、HP-O Flex 90、HP-OW 、Nikon LC15Dx等三坐標測量機儀測頭銷售和維修及技術解決方案。

HEXAGON海克斯康測頭|HP-TMe/HP-THDeSF/MLE三坐標測頭觸發式觸發測頭/接觸式掃描測頭/非接觸式掃描測頭技術參數：

HP-TMe觸發測頭

HP-TMe是一種帶吸盤的模塊化5方向觸發式測頭（±X,±Y,+Z），是HP-TM測頭的升級版本，提供四種觸測力吸盤選擇，用M8螺紋連接測座，M2螺紋連接測針。

HP-TMe保持了分體式的設計理念，并優化了外觀設計，減少碰撞等對測頭的損傷；優化了內部結構設計，整個測頭重量更輕，使用壽命可達200萬次。

測頭模塊具有不同的觸測力，幾乎滿足所有的應用需求：

·       低測力模塊，適用于高精度和敏感部件的測量

·       標準測力模塊，滿足大多數測量應用需求

·       中等測力模塊適用于較長的測針應用

·       拓展測力模塊適用于長測針的應用 ，預行程大，容錯能力更好

HP-THDe 觸發測頭

HP-THDe 可提供高重復精度的3D測量。HP-THDe能夠實現X、Y和Z方向的6D測量，并可攜帶長達100mm的測針。HP-THDe可提供SF、MF、EF三種測頭模塊，以滿足不同的測量需求。

產品優勢

· 重復性和3D測量性能，測針攜帶長度高可達100mm：HP-THDe觸發測頭適用于公差嚴格、高效率觸發的測量需求。同時適用于長測針的應用需求。

· 自適應觸發：與傳統的觸發系統不同，HP-THDe采用自適應觸發方式，可以由測量軟件和控制系統控制。當加載一個新的測針時，自適應觸發器會自動調整參數，確保始終保持測量性能。

·HP-THDe測頭表面封裝，以阻隔環境污染及碰撞傷害。可達到1,000萬次的觸測壽命。

HP-T-RP 觸發式傳感器

P-T-RP是五方向觸發測頭。該測頭結實，可適應任何工業環境，甚至在惡劣環境中也不易損壞。根據所配置的測針，可通過調節測頭測力，確保達到更高精度。

HP-S-X1系列接觸掃描式傳感器

• HP-S-X1是高精度連續掃描測頭，支持各種標準測量模式，例如：單點觸發測量，自定義測量和連續高速掃描測量，HP-S-X1分為X1S/X1H/X1/X1C。

• 可以使用HR-R自動更換架自動更換整個測頭，也可以使用HR-X自動更換架自動更換夾持吸盤,完成探針組件的更換。

• 由于HP-S-X1未鎖定空間任何方向，因而可向所有軸向同時運動，從而達到始終從待測表面法線方向逼近工件完成測量過程的目的。

• 通過TKJ接口，可與支持掃描的測座匹配

由于采用觸發校驗方式，測針校驗時間短，因而提高了效率。

HP-S-X3系列接觸掃描式傳感器

HP-S-X3是為高速、高精度坐標測量機而設計的一款，固定式模擬掃描測頭。

HP-S-X3三維掃描測頭系統，即使在水平探針長度達360  mm以及重量達150 g的情況下，也具備很高的精度。是一款高精度、高可靠性的測頭系統。

HP-S-X3能夠采用各種附件，包括各種探針、加長桿、連接座和關節，從而可完成任何測量任務。

測頭組合能夠通過具備高重復性的探針夾持器進行更換，而不需要重新校正。

HP-S-X5/X5HD系列接觸掃描式傳感器

HP-S-X5/X5HD采用固定式模擬掃描的測頭，為高速、高精度測量機設計而成。在測量公差要求嚴格的復雜幾何形狀時，具有高精度和可重復性。

此測頭系統的每個軸均由高精度的LVDT（線性可變微分傳感器）組成，從而允許攜帶長達500mm（X5HD型號：800mm）以及重達500g（X5HD型號：650g） 的探針和加長桿。

其探測模式包括單點觸發測量、自定中心和高速掃描，可完成各種復雜的測量任務，包括復雜輪廓和外形的掃描。

能夠采用各種附件，包括各種探針、加長桿、連接座和關節，從而可完成任何測量任務。

更換測頭組合能夠直接通過具備高度重復性的探針吸盤進行，而不需重新校正，仍保持測量精度。

防碰撞系統，為傳感器提供了額外的保護，該傳感器兼容 SENMATION 智能傳感器自動更換系統。

LSP-S2/S4系列接觸掃描式傳感器

LSP-S2采用模擬測頭設計，觸測后，同時進行空間向量測量，具有超高精度和重復性。高精度動態探測技術，接觸前無機械預偏差，免維護設計。

水平測針延伸長度可達800mm，連續高速掃描測頭LSP-S2允許測量工件內部深處的特征。

該探測系統的每個軸均由高精度的LVDT（線性可變微分傳感器）組成。

其探測模式包括單點觸發測量、自定中心和高速掃描，可完成各種復雜的測量任務，包括復雜輪廓和外形的掃描。

LSP-S4是高分辨率，低測力測頭。支持動態單點觸測，自定心測量及VHSS可變高速掃描測量。利用測頭加長桿，連續高速掃描測頭LSP-S4水平方向可達到800mm，因此可深入被測工件測量內部特征。另外由于整合了自動重量平衡系統，LSP-S4可以攜帶1000g。

HP-L-10.10 激光掃描傳感器

HP-L-10.10 是CMM 激光掃描傳感器，兼顧精度和效率，讓測量工作變得更加簡單。HP-L-10.10 提供易用性，激光掃描技術結合軟件功能，使 HP-L-10.10 激光掃描傳感器以精度和效率應對復雜的測量挑戰。

無論用戶是創建測量程序、對復雜零部件進行激光掃描，還是需要詳細的報告和數據進行進一步處理，HP-L-10.10 與 PC-DMIS計量軟件相結合，可在質量控制和評估過程的每個階段為用戶提供功能和特性。

高精度：探測形狀誤差為8μm，縮小了接觸式探測方法和非接觸式之間的精度差距。

多功能：可在眾多零部件表面采集可靠的測量數據，甚至可勝任高亮表面的掃描工作。它還提供選項，以滿足各種應用和質量過程的需求。

高效率：采點效率高達 600,000pts/s，可大大提高檢測效率。

人性化：具有可變掃描速度、擴展視場和內置全景相機等功能，是計量者的選擇。這款激光掃描傳感器不僅能完成工作，還能讓工作變得有趣。

應用場景

質量檢測：基于點云數據，評價零部件特征偏差，效率高且適用于各類材質的數據采集，報告很好。廣泛應用于車身鈑金件、葉片、航空結構件、醫療植入物等零部件的質量控制過程。

逆向工程：對產品樣件表面進行數字化處理，并通過造型設計軟件重新構造CAD模型，常應用于產品外觀設計。

三維展示：掃描工件，獲取點云數據，通過合適的材質或者貼圖的形式，讓產品的三維模型更貼近現實，便于后續展示或數據保存。

技術優勢

· 全景相機：用于輔助編程、遠程操作和報告編制的集成相機，為創建測量報告提供了可能性；

· 可變掃描速度： 改變 CMM 的速度，在相同的測量路徑中快速生成表面數據并提取特征；

 ·可調標準距離：用于優化掃描路徑，以獲得更高的點云密度和掃描效率等；

· 視覺引導和工作距離指示器：即時視覺反饋通知操作人員激光傳感器的狀態和實現測量性能的正確定位；

· 采集模式：HP-L-10.10 為點云采集提供了兩種選擇。在 SHINE 模式下，系統會根據測量表面自動調整設置。在 UD（用戶定義）模式下，用戶可以根據個人需求和待測工件表面情況調整設置；

· 機械設計：全景相機、帶預熱連接器的機械 TKJ 接口、溫度補償、內置風扇等獨特功能使 HP-L-10.10 成為激光掃描傳感器。

HP-C-TS5.10影像傳感器

HP-C 是一種非接觸式影像傳感器，可以測量微小特征、敏感或容易變形的部件，而且測量效率比傳統接觸式檢測更高效。它配備了高清相機和內置照明系統。

110 mm 的工作距離和兩個變焦選項，HP-C 可以測量各種零件，特別適用于特征尺寸小，接觸式無法檢測的情況。

HP-C 與 HR-R 更換架兼容。該系統支持 CMM 自動更換正在使用的傳感器，使 HP-C 能夠集成到多個傳感器零件檢測程序中，且無需任何操作人員干預。

應用場景

薄壁件快速檢測：如家電外殼、筆記本鍵盤鋁板、擋泥板、網板、樣板、電機硅鋼片等

2D元素檢測：定子絕緣紙、電路板電路、掃描儀靶標點、各類噴涂/鐳射標識等

柔性高、易變形工件：各類墊圈、支架、橡膠、塑料、絲狀零部件等

微小尺寸元素檢測：電子連接器、各類平面小孔等

技術優勢 

· 可選的視場和像素大小：借助 HP-C，操作人員可以在測量更多更大的特征視場和獲得更高精度的更小測量區域之間進行選擇；

· 從細微處著手：HP-C可同時測量多個特征，從而實現快速數據采集，隨之可以進行放大，以便更好地分析每個單獨的特征；

· 數碼彩色相機和復雜的照明：憑借 300 萬像素攝像頭和 LED 照明系統，即使在復雜的條件下也能獲得結果；

· 捕捉范圍廣：借助 HP-C 和 PC-DMIS，該傳感器能夠快速捕捉和測量視場之外的更多特征，提高了效率；

·  全自動傳感器更換：HP-C 配備了 Hexagon 的 TKJ 接口，可借助 HR-R 傳感器更換架實現全自動更換。這樣，可以將多個傳感器用于同一個零件和同一臺機器；

· 保持測量精度：HP-C 為工作區域提供照明，以確保相機捕捉所有相關數據，并具有更高分辨率的變焦，以獲得高精度的測量結果；

· 成熟的一體系統：HP-C 的開發面向使用 Hexagon PC-DMIS 軟件的 Hexagon CMM。

HP-O光學傳感器

非接觸、靈活、高速

HP-O解決方案是基于調頻干涉光測距原理，通過三坐標測量機（CMM）來實現的掃描技術。

HP-O光學探針具有與接觸式掃描測頭相當的精度和可靠性，更高的掃描速度，更大的測量范圍和非接觸式測量的普遍光學優勢。當測量速度很重要且零件難以通過接觸式測頭進入或者觸發測量可能變形時，它是高精度接觸式測量的替代方案。

HP-O解決方案是多傳感器兼容的解決方案-多個光學傳感器或觸發測頭可以在單個程序中使用更換架進行互換。光學測量具有單點模式、3軸掃描以及結合轉臺的4軸掃描模式。該解決方案包含著海克斯康制造智能的QUINDOS軟件和選定的CMM,作為一個測量系統釋放。

HP-O

HP-O是使用LSP-S20測頭的固定式測頭解決方案，并且是多傳感器兼容的多個光學或接觸式測針可以在單個測量程序中使用標準測針更換架互換。光學測量可以在單點或掃描模式下進行。

高精度復合傳感器解決方案

可與接觸式測針互換

HP-O Adjustable

HP-O Adjustable允許使用3軸接頭在測量行程內對測針進行單獨校準。在測量程序中，可以使用標準測針更換架選擇不同的光學和接觸式測針。

探針測量角度可實現調整

多傳感器兼容

HP-O Hybrid

HP-O Hybrid 在單一配置中結合了光學和接觸式測針。適配器允許用戶創建五個測針的設置，有四個光學測針。由于獨特的HP-0復合設計，測量過程中不再需要更換傳感器。

同一種配置可以組合使用光學和接觸的固定傳感器

在測針之間快速切換，無需傳感器更換

HP-O Multi

HP-O Multi具有多達六種不同測針的多光學測針配置。固定的傳感器解決方案可以對測針進行單獨校準，以采集難以觸及的特征。

一個配置中可以有六種不同的HP-O探針

在測量時，測針不需要更換

HP-O Flex

HP-O Flex可以通過分度頭HH-AS-OT2.5移動12240個傳感器位置。該解決方案允許在一個測量程序中使用光學和接觸式測針。傳感器可以用測針更換架。

分度測頭具有12240個傳感器位置

使用測針更換架的光學測針和接觸式測針

HP-O Flex 90

以90度角安裝的分度頭和光學傳感器的組合使得測針能夠圍繞傳感器的光軸旋轉。該設置使 HP-O Flex 90 成為測量葉盤的選擇。

測量水平放置零件的選擇

光學和接觸式之間的自動更換

技術優勢

1. 對工件無機械影響，可以避免測量時劃傷零件

2. 更高的數據采集率 -1 kHz的采樣頻率

3. 高空間分辨率測量小細節 - 光斑尺寸低至11μm

4. 測頭 - 低至190g

5. 接收角度可達±30°（粗糙表面）±4°（鏡面）

6. 測頭直徑小至3mm，測量范圍可達20mm，可以訪問接觸式測針無法達到的點

7. 基于高數據采集速率和探測速度，測量速度更高更

8. 高密度獲取特征信息

HP-OW 共聚焦光學傳感器

HP-OW 提供高度非接觸式測量，幾乎適用于各種材質表面。HP-OW 傳感器通過光學色散原理建立距離與波長間的對應關系，利用光譜儀解碼光譜信息，從而獲得位置信息，實現高精度非接觸測量。

HP-OW 采用了 Hexagon 通用 TKJ 接口連接方式，搭配內置光纖接口 HH-AS8-OWT2.5 測座，通過 HR-R 更換架可進行多傳感器自動更換。得益于其使用的色散原理，HP-OW 擁有數毫米的工作范圍。結合高達 ±30° 的大接收角，為測量提供了更多可能性。

HP-OW 有三種不同規格型號，它們在工作距離，工作范圍等方面有一定差異,適用于不同應用需求。

三坐標測量機轉換為多傳感器復合式系統：使用配備觸發式傳感器和HP-OW光學傳感器的三坐標測量機可確保測量靈活性。

高亮、透明/半透明工件檢測：HP-OW傳感器很容易應對不同表面工件的測量挑戰。

對易碎材料的高精度檢測：HP-OW傳感器通過提供精度非接觸式測量來避免工件產生的損壞或形變。

應用場景

1. 透明/半透明工件：如VR鏡片，汽車玻璃，屏幕玻璃及保護膜、車燈外罩、抬頭顯示等；

2. 特殊材質/微小結構：燃料電池雙極板、鍍層工件等；

3. 表面：如醫學植入物，Hairpin等；

4. 透明工件厚度測量（一定厚度范圍內）。

技術優勢

1. 適用于所有工件表面：HP-OW 可以應對各種測量。透明/半透明工件，高亮表面，敏感材質表面，甚至是厚度測量，HP-OW 也可以一次完成；

2. 螺旋掃描校準：區別于普通白光傳感器單點校驗的方式，HP-OW采用了Hexagon獨特的螺旋校驗方式，從而大大提升了校驗效率。參數由 PC-DMIS 自動選擇；

3. 傳感器自動更換：HP-OW傳感器可在測量程序中與不同的Hexagon傳感器互換，以實現靈活性；

4. 適合不同測量需求的多種測頭：該傳感器有多種規格可供選擇，確保在各種應用中精確測量敏感、反射、鏡面或透明材料。

5. 兼容性：HP-OW傳感器適用于大多數Hexagon坐標測量機，包括GLOBAL S、OPTIV M和Leitz高精度測量機。它還兼容光學測頭、SENMATION傳感器更換接口、HR-R更換架、PC-DMIS和QUNIDOS軟件；

6. 尺寸測量原理：白光透過光學測頭，而表面反射特定的波長，這取決于它到測頭的共焦距離。這項技術可以測量所有材料，還可以用于測量厚度、表面形貌、橢圓度、粗糙度或形狀。

Nikon LC15Dx激光傳感器

激光掃描技術提高了整個應用程序的效率、生產力和質量。使用海克斯康Nikon LC15Dx傳感器，可為您的Leitz PMM-C或Reference測量機提供快速、高精度的激光傳感器。從生成點云進行尺寸檢查到逆向工程，激光掃描傳感器將幫助您提高生產過程，同時保持產品質量。

數據和點云質量使Nikon LC15Dx激光掃描傳感器成為高精度三坐標測量機上觸發式探測系統的一種非接觸式替代方案，并且不會影響測量精度。

Nikon LC15Dx的ESP3技術實時智能調整每個測量點的激光位置。可以更有效地測量各種表面材料、并有效進行表面環境光和顏色過濾，而無需用戶手動調節和對零件進行表面噴涂，包括小而易碎的零件。

Nikon LC15Dx激光掃描傳感器安裝在2.5°自動旋轉測座上。就像任何與該測座兼容的光學或觸發傳感器一樣，Nikon LC15Dx激光掃描傳感器可以在程序運行期間通過更換架自動更換。

Nikon LC15Dx激光掃描傳感器結合轉臺的4軸掃描可使您的測量更有效，并提高效率。

海克斯康測頭三坐標測頭實物圖：

售后服務：

產品質保12個月，提供技術支持。